Rastrovací elektronová mikroskopie, komora pro velké vzorky, obraz v režimu sekundárních a odražených elektronů, analýza obrazu ve všech režimech, fraktografická analýza.
Metody rtg. prvkové analýzy, energiově dispersní analýza (od bóru po americium), rtg. mapování, analýza v bodě, na úsečce, v ploše, speciální analytické programy pro kombinaci morfologické a prvkové analýzy.
Mechanické zkoušky tahem, ohybem, zkouška rázem v ohybu, stanovení tvrdosti metodou Brinell, Rockwell, Vickers a Shore.
Měření drsnosti s grafickým výstupem parametrů Ra, Rz včetně zpracování na PC.
